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高低溫試驗(yàn)箱的核心工作環(huán)境及維護(hù)相關(guān)要點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間：
2025-06-27
來(lái)源：
斯派克環(huán)境儀器
編輯 | 斯派克環(huán)境儀器
高低溫試驗(yàn)箱是用于測(cè)試產(chǎn)品在高低溫環(huán)境下性能的設(shè)備，其自身工作環(huán)境溫度有嚴(yán)格要求，這關(guān)系到設(shè)備的運(yùn)行穩(wěn)定性、測(cè)試精度以及使用壽命。以下是關(guān)于高低溫試驗(yàn)箱工作環(huán)境溫度的具體要求及相關(guān)說(shuō)明：
一、核心工作環(huán)境溫度要求
1. 常規(guī)適用環(huán)境溫度范圍
高低溫試驗(yàn)箱最好的工作環(huán)境溫度為 15℃~30℃
原因：設(shè)備內(nèi)部的制冷系統(tǒng)（如壓縮機(jī)）、加熱元件及控制系統(tǒng)對(duì)環(huán)境溫度敏感。環(huán)境溫度過(guò)高會(huì)導(dǎo)致制冷系統(tǒng)散熱不良，影響降溫效率，甚至觸發(fā)過(guò)熱保護(hù)；環(huán)境溫度過(guò)低則可能導(dǎo)致潤(rùn)滑油黏度增加，設(shè)備啟動(dòng)困難，或加熱過(guò)程能耗增加。
2. 環(huán)境溫度波動(dòng)限制
高低溫試驗(yàn)箱工作環(huán)境溫在 24 小時(shí)內(nèi)的波動(dòng)幅度應(yīng)不超過(guò) ±5℃。
影響：溫度劇烈波動(dòng)會(huì)導(dǎo)致試驗(yàn)箱內(nèi)部溫控系統(tǒng)頻繁調(diào)節(jié)，可能引起測(cè)試參數(shù)不穩(wěn)定，同時(shí)增加設(shè)備部件的損耗（如繼電器、傳感器）。
二、輔助環(huán)境要求（影響溫度適應(yīng)性）
1. 環(huán)境濕度要求
高低溫試驗(yàn)箱工作環(huán)境應(yīng)相對(duì)濕度應(yīng)控制在 ≤85%RH（無(wú)冷凝）。
原因：高濕度環(huán)境可能導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部電路受潮短路，或制冷系統(tǒng)管道結(jié)霜，影響熱交換效率；潮濕空氣還可能加速金屬部件銹蝕。
2. 通風(fēng)與散熱條件
高低溫試驗(yàn)箱周?chē)璞３?nbsp;≥30cm 的通風(fēng)空間，頂部距離天花板至少 50cm。
目的：確保設(shè)備散熱風(fēng)扇正常排風(fēng)，避免周?chē)鸁峥諝夥e聚導(dǎo)致環(huán)境溫度升高。若通風(fēng)不良，即使初始環(huán)境溫度符合要求，也可能在設(shè)備運(yùn)行過(guò)程中因散熱不足而使環(huán)境溫度超標(biāo)。
3. 避免熱源與陽(yáng)光直射
高低溫試驗(yàn)箱應(yīng)遠(yuǎn)離發(fā)熱設(shè)備（如烤箱、熔爐），且避免陽(yáng)光直接照射。
后果：額外熱源會(huì)使局部環(huán)境溫度升高，增加設(shè)備制冷負(fù)荷，甚至導(dǎo)致溫度控制失靈。
三、特殊場(chǎng)景下的溫度要求
1. 高溫試驗(yàn)箱模式下的環(huán)境適應(yīng)性
當(dāng)高低溫試驗(yàn)箱運(yùn)行高溫測(cè)試（如 100℃以上）時(shí)，環(huán)境溫度需控制在 35℃以下。
原因：高溫測(cè)試時(shí)設(shè)備本身散熱增加，若環(huán)境溫度過(guò)高，會(huì)導(dǎo)致設(shè)備內(nèi)部元件（如控制器、電纜）長(zhǎng)期處于高溫狀態(tài)，加速老化。
2. 低溫試驗(yàn)?zāi)Ｊ较碌淖⒁馐马?xiàng)
進(jìn)行低溫測(cè)試（如 - 40℃以下）時(shí)，環(huán)境溫度不宜低于 5℃。
原因：過(guò)低的環(huán)境溫度可能導(dǎo)致制冷系統(tǒng)中的制冷劑流動(dòng)性變差，壓縮機(jī)啟動(dòng)電流過(guò)大，增加設(shè)備故障風(fēng)險(xiǎn)。
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